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一、电压基准测试的基本方法
这段时间大家都做了很多基准，但如何知道做的好坏？温度系数如何？稳定性如何？这就需要进行测试。那么如何测试呢？
1、简单测试
最简单的就是用高位表，直接测试，采集用自己，或者GPIB卡自动进行。
但是，这种测试方法，只能测试基准的短期情况，比如开机特性或者把基准带电冷藏后，拿出来测试温度变化情况。一旦涉及中长期稳定性，或者由于整体环境温度的改变而引起的读数的变化，那么这样的测试就有很大问题。读数如果有变，到底是基准的变化，还是表的变化，是无法分清的。原因很简单，我们做的基准都是用最好的元件，263/LTFLU/LTZ1000，而且做了很多的稳定性措施，指标可能很高，比如达到0.2ppm/C温度系数，日变化<0.3ppm。即便是最高档的8位半万用表，其24小时的稳定性（0.5ppm）、温度系数（0.5ppm/C），可能都在我们DIY的基准之下。所以，上述方法与其说测试基准，还不如说是用基准来测试表。
以下图表，就是redtony采用llycom的GPIB卡直接测试的结果。由于lly的卡带有温度，因此用的2轴直方图。
2、 背靠靠对比测试
其次就是用2个基准做背靠背对比：
这种对比，由于电压相差很小，可以采用高位表的最灵敏档（比如100mV档），这样分辨就可以达到0.1uV。即使分辨到1uV，也相当于10V的0.1ppm，因此可以看到平常看不到的变化细节，可以用6位半表取得8位半表直接测试的效果。
当然，在两个基准互相仍然有变化的情况下，你也不知道是其中一个基准变大，还是另外一个基准变小。
因此，此种方法主要用在在两个基准相差比较大的时候，即一个为比较好的基准、另一个是普通基准，那么就可以以前者为参照（认为是固定不变的），而把变化都归结到另一个基准的身上。若两个都是差不多的基准，那就不太适用了。
以下图表，就是Jambalaya用3456A，对比测试2个7V的结果。横轴是时间，对比了24个小时。纵轴是电压差，uV。可以看到，互相差异的最大值大约是2.5uV，也就是0.36ppm，直观的得到了基准的超低频噪音特性。
3、基准并联
测试的最基本的方法，就是对比。
比如我做了3个基准，或者更多的基准，如何测试呢？如何对比呢？
很简单，先要对基准进行并联。统计分析的结果告诉我们，基准并联后，会降低噪音、减少不确定度、提高稳定度。从数学的意义上看，并联就是做算术平均。
因此，并联分为逻辑并联和物理并联两种。前者就是直接对基准进行分别测试，然后对数据求平均值。而后者是用电路来实现并联，直接输出一个并联的、平均的信号。
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