2、测试目的：
通过对比测试，得到每一个基准的温度系数和中长期稳定性指标
3、系统组成图
其中基准组群就是待测试的基准，由于要对比，必需尽可能的把自己的、外来的所有基准都接上。10V、7V电压任意，数量主要取决于开关。但若没有8位半，最好是背靠背测试，因此要求电压一致，即要么全是10V，要么全是7V。
4、控制器
控制器包括接口控制部分、开关部分和接线部分。
其中，开关自然是自动控制的，可以采用磁保持继电器或者PhotoMos，个人倾向于后者。为双刀，尽管背靠背测试可以用单刀。
控制部分的输入信号来自高位表的VM COMP，即Voltage Measurement Complete测试结束信号。一旦测试结束，万用表就发一个脉冲，控制部分就可以把开关转到下一位置，然后，等待一小段延时后（目的在于让继电器接触牢固、电压上升完毕），触发高位表进行下一次测试，这可以通过万用表的Ext Trig（External Trigger外部触发）来进行。
实际上，我的3458A、34420A、34401A、6581T、6871E、1281都带有延时测试，也就是测试开始的时候（内部触发或外部触发），先自己进行延时（可调），再进行正式测试。例如3458A可以用命令Deley 1E-1来设置0.1秒的延时。有了这样功能的表，就可以不接收这个触发信号。因为，一旦测试完成就发出VM信号，控制器很快控制开关完成转换，此时万用表还在延时。转换完毕后自动开始下一个测试。所以，这个Ext Trig也画成了虚线。
由此可见，以上过程重复下去，就可以实现测试的循环，而不是测试同一个信号。
当然，控制器部分可以设置成每个开关测试几次（这样可以去掉不正常的信号、取平均等），然后再转到下一位置。
另外，控制器也可以选择循环的个数，因为位置可能很多，但实际没有都接基准（用于一共有10个测试位置但只接了5个基准），以便排除空测试。
控制器的外部接线采用单芯线、全部焊接的方式，类似Dataproof的某款开关，这样不仅简化接线，而且有不错的热电动势。
5、高位测试表
可以采用8位半，利用其良好的线性，可以直接对比7V和10V，即基准电压可以混合。也可以采用6位半，这样只能对比到1ppm（或者34401这样的可以从GPIB读出7位半、0.1ppm），这样最好接成背靠背的方式，只适合全部为10V的基准或全部为7V基准的场合
6、采集卡，可以用lly的或者成品的
7、PC机，毋庸多言，自动记录和后期分析处理所必需三、系统实现细节
以下是自己的试验系统。
如果要做比较正式的系统，满足大多数人的要求，那么大体的步骤是：
确定系统功能----尽量照顾多数人的需求，既不太复杂但也要留有一定余量
确定系统结构----简单、高性能、容易扩充、使用方便、价格不高，此为可以考虑的设计原则
电路设计--------实现方便，取材容易
布线
软件设计
组装测试
核心开关部分，可以采用PhotoMos开关。这是Wavetek在7000的电压基准系统里曾经用到的。
PhotoMos开关的优势，在于输出部分比较理想。我曾经用过KAQY212，4脚的形似光耦，输入部分是LED特性，只要1.0mA（1.1V）就能导通，导通电阻在1欧以下（纯电阻，MOS开关，较低热电动势）。而断电后输出也断开，开路电阻是1E10级别的。初级次级隔离，可以耐受kV级电压，耦合电容也很小。
这个开关也可以采用KAQW212，8脚的双开关。
当然，若采用松下的AQV102/AQV252，也可以，只不过是6脚的，体积要大一倍，不便于安装。
以下是我以前用这个PhotoMos做的开关，用4017做计数、循环，直接输出，给电阻+LED+PhotoMos串联，用5V电源。
这部分现在制作，可以采用类似的电路，用1个或者2个74HC4017串联，有最多10路/20路。
电源可以用2.5V供电，这样功耗小、发热少、热电动势就小。
控制部分的输入信号来自高位表的VM COMP。每当高位表测试完成，就输出一个脉冲，我们就可以利用这个信号，把开关转到下一位置，然后，用高位表自身延时一小段时间后，开始下一次测试。
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