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电压基准加速老化测试可靠吗?

时间:2012-10-09  来源:38hot  作者:lymex

很久以前,能够称得起超级基准的,只有凌特公司的LTZ1000一花独秀,其长期稳定性达到惊人的0.2ppm/kh。当然,263和LTFLU-1也具备类似的稳定性,只不过不是公开的(属于Fluke向Motorola和LT定做的,没有参数,也不能买到),因此不能算数。到了90年代末期,Analog公司以其最新的XFET技术生产了ADR293,声称也具备0.2ppm/kh的老化,并写在其1998年首版的数据表里:
http://pdf1.alldatasheet.com/datasheet-pdf/view/48847/AD/ADR293.html

然后,相关媒体开始报道,比较有影响的是美国的TI(德州仪器)公司和Thaler公司的两人Perry Miller和Doug Moore(属于被蒙骗),在1999年底发表了一篇文章叫“Precision voltage references”,介绍了Thaler公司的老化达到6ppm/kh的VRE3050,同时也比较了0.2ppm/kh的ADR293。这文章的原文目前还在TI公司网站上:
http://focus.ti.com/lit/an/slyt183/slyt183.pdf

凌特公司当然很早就注意到了这个器件,经过仔细的测试,在2000年开始抗议,发表了有名的文章“不要被电压基准源的长期漂移和迟滞所蒙蔽”
http://www.linear.com.cn/pc/downloadDocument.do?navId=H0,C1,C1154,C1002,C1223,P1204,D23259
原文: http://cds.linear.com/docs/Design%20Note/dn229f.pdf
文章两个观点非常明确:
------电压基准要注重长期漂移这个重要参数,不要只看温度系数
------用加速法测量长期漂移是完全不可靠的。
凌特严肃抨击了某器件0.2ppm/kh老化指标,说实际测量是大约100ppm/kh,是加速测试的300倍到750!


Analog公司自然发现了自己的愚蠢的错误,更改了参数。
现在,ADR293仍然在生产,但在其网站的数据表中,其老化参数已改为50ppm/kh,这与0.2ppm/kh比,真是一个巨大的反差:
http://www.analog.com/zh/prod/0,,769_838_ADR293,00.html
http://www.analog.com/UploadedFiles/Data_Sheets/ADR293.pdf

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