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很久以前，能够称得起超级基准的，只有凌特公司的LTZ1000一花独秀，其长期稳定性达到惊人的0.2ppm/kh。当然，263和LTFLU-1也具备类似的稳定性，只不过不是公开的（属于Fluke向Motorola和LT定做的，没有参数，也不能买到），因此不能算数。到了90年代末期，Analog公司以其最新的XFET技术生产了ADR293，声称也具备0.2ppm/kh的老化，并写在其1998年首版的数据表里：
http://pdf1.alldatasheet.com/datasheet-pdf/view/48847/AD/ADR293.html
然后，相关媒体开始报道，比较有影响的是美国的TI（德州仪器）公司和Thaler公司的两人Perry Miller和Doug Moore（属于被蒙骗），在1999年底发表了一篇文章叫“Precision voltage references”，介绍了Thaler公司的老化达到6ppm/kh的VRE3050，同时也比较了0.2ppm/kh的ADR293。这文章的原文目前还在TI公司网站上：
http://focus.ti.com/lit/an/slyt183/slyt183.pdf
凌特公司当然很早就注意到了这个器件，经过仔细的测试，在2000年开始抗议，发表了有名的文章“不要被电压基准源的长期漂移和迟滞所蒙蔽”
http://www.linear.com.cn/pc/downloadDocument.do?navId=H0,C1,C1154,C1002,C1223,P1204,D23259
原文： http://cds.linear.com/docs/Design%20Note/dn229f.pdf
文章两个观点非常明确：
------电压基准要注重长期漂移这个重要参数，不要只看温度系数
------用加速法测量长期漂移是完全不可靠的。
凌特严肃抨击了某器件0.2ppm/kh老化指标，说实际测量是大约100ppm/kh，是加速测试的300倍到750！
Analog公司自然发现了自己的愚蠢的错误，更改了参数。
现在，ADR293仍然在生产，但在其网站的数据表中，其老化参数已改为50ppm/kh，这与0.2ppm/kh比，真是一个巨大的反差：
http://www.analog.com/zh/prod/0,,769_838_ADR293,00.html
http://www.analog.com/UploadedFiles/Data_Sheets/ADR293.pdf
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