2、老化
小值电阻由于有效电阻体的体积必须大，因此就必须做成厚重的方式，这样一来内部的应力难于消除，再加上大体积的电阻难于密封，因此接触外界容易引起变化。除了有自然老化外，发热过大引起的永久性变化也不能忽略。如果电阻全密封，或者制作时材料彻底退火那还是好很多。当然，由于小阻值电阻导体厚重，很难受环境因素影响，因此大部分是不密封的。比如国产的BZ3，1mR和10mR就只是油浸的。
3、发热和功率
小电阻在测试状态下要通过比较大的电流，这样在电阻内部将产生比较大的功率和热量，引起电阻体内部温度升高。而电阻体一般是采用比较粗壮的金属电阻材料，内部很容易受力不均引起机械应力变化，造成温度系数不太好，这样就容易引起漂移。当DCC（见下）在测试对比的过程中，要求电压一致，因此越小的电阻其功率也越大。
在额定电压下，要想通过某个电流，必须有特定的发热，不可避免。
描述:0.01欧内部，使用时要求装油
4、温漂
温度直接影响表现的，功率大就更加剧了温漂。解决的方法就是寻找好的电阻、加强散热限制升温、进行补偿。
5、热电动势
不仅小电阻内部发热比较大，另外在引线电阻、接触电阻中也会发热，容易引起比较大的温度不均匀性。另一方面，小电阻上的电压相对很小，这样热电动势相对讲就很大，因此其影响就更加不能忽视了。
描述:L&N4210粗大的引线以减少热电动势，小引线是电流线！
6、测试仪器
测试仪器要大发生电流、同时要检测低电压。而这两个在高精度的场合下都比较难。
测试方法1、V-A法
就是让一个已知电流I通过未知电阻R的电流端子，然后通过测量其电压端的电压V，得到电阻：R=V/I。
这种方法是最基本的方法，其实也是最常用的。随后讲到的几种方法，也都可以认为是基与I-V法的。
商品的微欧计，基本都是这种方法。
而I-V法测试小阻值，有三个境界：
境界一：小阻值但不大电流，其实就是纳伏法，非额定输出时测试小电阻，把发热影响限制起来。缺点是需要仪表灵敏度太高
境界二：大电流但不大功率。其实就是采用低压，采用小阻值电阻。同样，对仪器的分辨提出挑战。
境界三：大功率但不大发热。其实就是脉冲电流法。每次测试的时间很短，采几个样就完成，其余时间处于没有功率的场合。
I-V法的特点：简单实用但精度不是很高。
条件：需要有一个短期稳定的恒流源，再加上一个线性和分辨良好的钠伏表。
方法1A：直接测试，如上。这种方法有赖与电流源的准确性。
方法1B：把标准和被比较电阻串联共同通以恒流源，用开关切换观察两个电阻上的不同读数
当然，切换可以是万用表内部的，比如34420A的比例测量功能。
这种方法对电流源的准确性没有要求，只要求短期稳定性。另外，测试不同的电阻，万用表的参考点变化了，因此也与万用表的共模抑制比相关。
描述:V-A法测试原理（方法1.1：直接测试）
测量方法1C，把1欧和0.1欧两个待比较电阻的电流端串联，通以稳定电流（0.1A），把电压引线接到开关转换后再接纳伏表，这样可以快速切换两个电阻的输出电压。
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